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Product Details

WFD-3000A

IC Test Handler(IC Test Handler)

设备优势

高精度: 采用自主研发的高精度运动平台,保证设备整体运行精度;
高效率: 采用多工位双平台(Tray、BIB、Sorting Bin)交替工作,多组真空吸嘴Tray、BIB、Sorting Bin同时工作,实现设备高效率;
智能控制: 配备智能化人机界面,操作简单,异常处理或者断电重启自动即可,无需续片;
兼容性高: 支持多种封装类型,如QFN/BGA/TSOP/QFP/EMMC满足多样化需求;
高可靠性: 采用优质材料和一线品牌,确保设备长期稳定运行,降低维护成本。


WFD-3000A

性能参数

设备型号:WFD-3000A
作业模式:Load/Unload
IC类型(IC Type):QFN / BGA / TSOP / QFP / EMMC
托盘尺寸(Tray Size):JEDEC Standard
托盘上下料方式(Tray load way):堆叠上料
BIB清洁:-
BIB规格(Burnin Board Size):W450mm*L570-620mm
BIB数量:双平台交替作业
IC尺寸(IC Size):5*5mm to 25*25mm
产能(UPH):15K (10*11.6mm DDR4 BGA78,BIB 16*22 302DUT/Tray 10*21/Tray)
13.5K (7.5*10.6mmDDR4 BGA78,BIB 18*20 360DUT/Tray 10*21/Tray)
分选仓数量:Max 8 Groups
Tray吸嘴数量:12*3=36set
BIB吸嘴数量:12*3=36set
Sorting Bin吸嘴数量:5*2=10set
JAM Rate:≤1/5000
设备外形尺寸(External dimensions):L3670*W2000*H2080mm
电源(Power Supply):AC220V 50Hz 7KW
设备重量(Weight):4500kg


万福达专注于半导体封装测试设备的
设计、制造与销售

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